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簡(jiǎn)要描述：靈活的自動(dòng)掃描系統(tǒng)MDPmap設(shè)計(jì)用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)、測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息等參數(shù)的小型臺(tái)式無觸點(diǎn)電特性測(cè)量?jī)x器，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖...

簡(jiǎn)要描述：激光掃描系統(tǒng)該儀器被設(shè)計(jì)用于工藝和材料的質(zhì)量監(jiān)控，例如單晶或多晶硅。多晶硅磚切割標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)輸出。能夠根據(jù)爐子的輸出質(zhì)量進(jìn)行單獨(dú)的爐子監(jiān)控進(jìn)行優(yōu)化和決定...

簡(jiǎn)要描述：晶體硅太陽(yáng)電池SENperc PV是為PERC太陽(yáng)能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的。它測(cè)量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用...

簡(jiǎn)要描述：快速自動(dòng)掃描系統(tǒng)MDPinline ingot系統(tǒng)是可用于多晶硅電氣特性的快的測(cè)量工具。它被設(shè)計(jì)用于高產(chǎn)量生制造工廠的研究用途。每塊磚都可以在不到兩分...

簡(jiǎn)要描述：少子壽命測(cè)試儀MDPinline是一個(gè)用于定量測(cè)量少子壽命的緊湊型高速生產(chǎn)集成自動(dòng)掃描系統(tǒng)。當(dāng)晶片通過傳送裝置移動(dòng)到儀器下面時(shí)，一片晶片的形貌測(cè)量在一...

簡(jiǎn)要描述：薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)RT inline 薄膜測(cè)量系統(tǒng)是為沉積過程的在線質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的。該方法基于SENTECH的薄膜厚度探針FTPadv，用...

簡(jiǎn)要描述：在線壽命和電阻率掃描儀電池生產(chǎn)線的進(jìn)料質(zhì)量調(diào)查是常見的應(yīng)用案例，以及在鈍化和擴(kuò)散之后的工藝質(zhì)量檢查，在許多其他的專業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域也有很大的可能性。只需要集...

簡(jiǎn)要描述：自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器SenSol自動(dòng)掃描儀器設(shè)計(jì)用于玻璃薄膜光伏制造中薄膜性能的質(zhì)量控制的在線測(cè)量。大量的傳感器可以集成到SenSol傳感器平臺(tái)中。這...